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基礎信息Product information

產(chǎn)品名稱：涂層測厚儀膜厚計德國EPK

產(chǎn)品型號：MINITEST 740

產(chǎn)品簡介：

MINITEST 740 涂層測厚儀膜厚計德國EPK
創(chuàng)新的SIDSP（探頭內部數(shù)字信號處理）技術提升了測量的精確性
-測量范圍達15mm，可更換F、N或FN探頭，供內置或外接探頭使用
-FN探頭自動識別F（鐵磁性）或N（非磁性）基體，操作方便不易出錯
SIDSP技術-技術，智能數(shù)字化的涂層測厚探頭

產(chǎn)品特性Product characteristics

MINITEST 740 涂層測厚儀膜厚計德國EPK

MINITEST 740 德國EPK 涂層測厚儀膜厚計

創(chuàng)新的SIDSP（探頭內部數(shù)字信號處理）技術提升了測量的精確性

-測量范圍達15mm，可更換F、N或FN探頭，供內置或外接探頭使用

-FN探頭自動識別F（鐵磁性）或N（非磁性）基體，操作方便不易出錯

SIDSP技術-技術，智能數(shù)字化的涂層測厚探頭
模擬信號處理時代已成過去，數(shù)字信號處理將成為未來的趨勢

標準配置： 推薦配件:
帶塑料手提箱，內含： - F1.5/N0.7/FN1.5探頭用測量支架
-MINITEST 720（內置探頭）
--或MINITEST 730（外置探頭）
--或MINITEST740主機（不含探頭，有各種探頭可選）
-校準套裝含校準片和零板
-操作使用說明CD，德語、英語、法語、西班牙語
-2節(jié)AA電池

技術數(shù)據(jù)表
SIDSP探頭

探頭特性	F1.5，N0.7，F(xiàn)N1.5		F2	F5，N2.5，F(xiàn)N5		F15
	F	N	F	F	N	F
測量范圍	0-1.5mm	0-0.7mm	0-2mm	0-5mm	0-2.5mm	0-15mm
使用范圍	小工件，薄涂層，跟測量支架一起使用		粗糙表面	標準探頭，使用廣泛		厚涂層
測量原理	磁感應	電渦流	磁感應	磁感應	電渦流	磁感應
信號處理	探頭內部32位信號處理（SIDSP）
精確度	±（1μm+0.75%讀值）		±（1.5μm+0.75%讀值）			±（5μm+0.75%讀值）
重復性	±（0.5μm+0.5%讀值）		±（0.8μm+0.5%讀值）			±（2.5μm+0.5%讀值）
低端分辨率	0.05μm		0.1μm			1μm
zui小曲率半徑（凸）	1.0mm		1.5mm			5mm
zui小曲率半徑（凹，外置探頭）	7.5mm		10mm			25mm
zui小曲率半徑（凹，內置探頭）	30mm		30mm			30mm
zui小測量面積	Φ5mm		Φ10mm			Φ25mm
zui小基體厚度	0.3mm	40μm	0.5mm	0.5mm	40μm	1mm
連續(xù)模式下測量速度	每秒20個讀數(shù)
單值模式下zui大測量速度	每分鐘70個讀數(shù)

主機

型號特性	MINITEST 720	MINITEST 730	MINITEST 740
探頭類型	內置	外置	內置外置可換
數(shù)據(jù)記憶組數(shù)	10	10	100
存儲數(shù)據(jù)量	zui多10,000個	zui多10,000個	zui多100,000個
統(tǒng)計值	讀值個數(shù)，zui小值，zui大值，平均值，標準方差，變異系數(shù)，組統(tǒng)計值（標準設置/自由配置）
校準程序符合標準和規(guī)范	ISO，SSPC，瑞典標準，澳大利亞標準
校準模式	出廠設置校準，零點校準，2點校準，3點校準，使用者可調節(jié)補償值
極限值監(jiān)控	聲、光報警提示超過極限
測量單位	um，mm，cm；mils，inch，thou
操作溫度	-10℃-60℃
存放溫度	-20℃-70℃
數(shù)據(jù)接口	IrDA 1.0（紅外接口）
電源	2節(jié)AA電池
標準	DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 ASTM B244，B499，D7091，E376 AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC-PA 2
體積	157mm x 75.5mm x 49mm
重量	約175g	約210g	約175g（內置）/230g（外置）